カード/メモリア/test
Last-modified: Tue, 27 Jun 2017 22:13:04 JST (2729d)
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test
No. | 0 |
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レア度 | 0 |
コスト | 0 |
最小値/最大値 | |
HP | 100/999 |
ATK | 10/99 |
DEF | 1/9 |
パッシブスキル | 1%up |
入手により解放される サイドクエスト | SI2-test |
登場キャラクター
備考
サイドクエスト詳細
- SI/2/SI2-test?
- 1行目
2行目 全角スペース 半角スペース
空行挟んで4行目
特殊入手法
- 入手不可